• 集成电路测试机,IC测试设备参数,使用简介
  • 发布时间:2014-9-5 9:33:54 来源:国芯网
  • 集成电路测试机的种类,若依照其测试功能一般可区分为Logic测试机,Memory测试机及Mixed-signal测试机三大类。其中Logic测试机应用于一般消费性IC,如Voice,MCU IC等测试使用,Memory测试机应用于DRAM,Flash,SRAM等 IC测试使用,而Mixed-signed测试机,则应用于Mixed-Signal IC测试,如Vedio,SoC IC等测试使用。
         虽然不同种类的IC测试机使用于不同类型的IC 测试使用,但其最基本的测试功能及原理实际上差异性并不大,只是不同类型的测试机多了某些特别的测试功能罢了,其中以Logic测试机之测试功能最为基本,故本文将以Logic测试机之功能及使用作为IC测试机之介绍。
         1、Logic IC测试机之功能一般可区分为:AC测试部分,DC测试部分,电源供给部分。
         (1)AC测试部分
         该AC测试部分最主要的功能是将利用存放在 Local Memory的Pattern,经由时序产生模块(Timing Generator),波形格式模块(Waveform Formatter)及信号准位驱动模块(Driver)产生给DUT IC所需要的输入信号。同时DUT IC输出的信号也经由信号准位比较模块(Comparator) ,时序产生模块(Timing Generator)及处理器(Sequencer)和存放在Local Memory的Pattern比较(Comparison)以测试该IC的输出信号是否正常。AC测试部分其模块如图1所示。
         (2)DC测试部分
    DC的测试是使用参数量测模块(Parameter Mea sure ment Unit, PMU)来量测DUT IC有关该IC的漏电源,输出入工作电流/电压是否正常,PMU是一组可以提供电流源及电压源的电源供应器,同时也是一组具有可量测电流值及电压值的量测设备。PMU具有电流及电压限制功能,可让 PMU所施予电流及电压值不会超过该电流及电压的限制值,以保护DUT IC不被施予的电流及电压烧掉。DC测试部分其模块如图2所示。
         (3)电源供应部分
         电源供给模块(Device Power Supply, DPS)来供给DUT IC工作所需要的电源,并量测该IC的静态或动态电流是否正常。DPS是一组可以提供电压源的电源供应器,同时也是一组具有可量测电流值的量测设备。DPS具有电流限制功能,可让PMU所施予电流值不会超过该电流的限制值,以保护DUT IC不被施予的电流烧掉。电源供给部分其模块如图3所示。
         2、IC测试机的使用
         IC测试机的使用包含有:测试图样编辑(Test Pattern),测试程序(Test Program)编写,测试程序除错,IC电气特性分析以及测试结果统计 等主要项目。
         (1)测试图样编辑
         测试图样分为二部分,第一部分为控制指令(u-Intrution):控制测试图样的测试动作流程,其指令如:Repeat,Match,Jump等,另一部分为:图样符号(Pattern Symbol)如0,1,L,H,Z等。测试图样是用于IC功能AC测试使用,IC 测试机的测试图样编辑功能提能供Test Pat tern的显示,修改,贮存等功能。
         (2)测试程序编写
         依照IC需要测试项目编写测试程序,程序编写可以利用图像(Icon)拉图的方式编写,使用者只要在该测试图像中输入测试的参数就可以。此种使用方式对于测试程序编写较为容易。另一种是使用“指令”(Command)方式编写测试程序,此种方式较为复杂,使用者需要熟记指令的语法,但对于特殊的IC测试应用,指令的使用则较拉图方式来得更有弹性且方便。
         (3)时序图显示(Logic Waveform)
         该功能可以记录及显示IC测机输出信号的波形及DUT IC输出信号的波形,若DUT IC输出的信号和Test Pattern不一样该时序图显示功能也能显示出来。
         (4)测试程序除错(Debugging)
         可以显示各种量测的结果,同时也让使用者直接修改测试参数,并可以立即量测。
         (5)Shmoo分析
         可量测及分析IC的电气特性,使用者可以设定一个或多个测试参数的范围值后,再量测IC,以得知IC在某测试范围其功能会正常,在某测试范围会发生异常,如此就可以得知该IC的使用电气特性。
         (6)测试结果(Summary Report)
         IC测试机会将IC所测试的项目及测试值显示及记录下来,同时也会将IC依照测试程序的设定,将不同测试项目的结果给予分类及统计,以作为测试生产报表使用。
         3、总结
         IC测试机除了给IC代工测试厂,作为IC测试使用之需要,同时也可以给IC设计公司,作为IC工程验证使用,它是十分方便且有用的设备,然而却发现IC测试的需要较高于IC测试机所能提供的测试功能,其原因不外乎是当IC有研发出来的新功能时,IC测试机才会要开始开始研发该部分的测试功能,故IC测试机总是无法完全满足使用IC功能的测试需要,因为如此,IC测试将提供给每位IC测试工程师及IC测试机制造厂一个很大的努力空间,最后期望于未来将有更多的优秀工程师能投入IC测试的领域,彼此相互研究及分享IC测试的经验,进而提高IC测试技术。
    征稿启示:您的芯产品推广想出现在这里吗?赶快投稿:mk008@zgsemi.com

台湾微星科技推出低功耗高
立体声FM收音机电路图
·万高推出集成RTC单相多
·单节锂电充电芯片 2.5
·中广芯源推出无线鼠标升压
·48V降压IC 60V降
·凌力尔特推出正负压DC/
·单电源变双电源的制作,正
·精密运放正负压稳压电源I
·中广芯源推280K频率升

台湾微星科技推出低功耗高
立体声FM收音机电路图
广视美电子推出恒压恒流电
明芯微推出双向数据传输的